Modulární ToF SIMS systém s vysokým rozlišením.
Unikátní stolní systém pro hmotnostní spektrometrii sekundárních iontů (SIMS), nahrazující rozměrné UHV laboratorní systémy, které výrazně převyšuje uživatelským komfortem i rychlostí měření. Systémy vybavené kvadrupólovým nebo time-of-flight detektorem jsou schopny provádět statickou i dynamickou analýzu. Velmi výkonné zařízení pro analýzu tenkých povrchových vrstev s nanometrovým hloubkovým rozlišením, vytváření hloubkových profilů.
Volba 2 velikostí vzorků. Přístroj může být vybaven zásobníkem vzorků pro urychlení analýz. Velmi malý čerpaný objem (turbomolekulární vývěva), díky kterému je čerpání do vysokého vakua velmi rychlé.
Novinky
![](obrazky/sims.png)
SIMS
Firma Scientific Analysis Materials rozšířila své portfolio o modulární SIMS systém zvyšující oproti stolnímu systému variabilitu z hlediska použitelných iontových děl a prostorové rozlišení při zachování rychlosti analýz. MidiSIMS ToF-HR je tak výraznější alternativou klasických UHV SIMS systémů.