Uni-Export Instruments, s.r.o.
Charakterizace částic Charakterizace povrchů Charakterizace materiálů
Zařízení pro testování integrity a účinnosti vzduchových filtrů, filtračních materiálů a ochranných masek, generátory aerosolů, fotometry, manuální i automatická testovací zařízení, přístroje pro detekci bioaerosolů.
Firma Bettersize vyrábí široký sortiment zařízení pro charakterizaci částic. Kvalita měření je dána i řadou vlastních patentovaných řešení vycházejících ze zkušeností zakladatele firmy s vědeckou prací. Laserová difrakce, dynamický rozptyl světla, obrazová analýza, měření Zeta potenciálu.
přenosné i stabilní čítače částic Lighthouse čítače pro vzduch, plyny i kapaliny monitorovací systémy pro farmacii, polovodičový průmysl apod. inženýring a instalace systémů
měření velikosti částic dynamický rozptyl světla 0,03 - 6000 nm měření Zeta potenciálu videomikroskop pro měření velikosti částic a Zeta potenciálu
ultrazvukové spektrometry pro měření velikosti částic, Zeta potenciálu a mikroreologie u koncentrovaných suspenzí a emulzí měření vodivosti nepolárních kapalin
síta a sítovačky pro suché i mokré sítování veškeré příslušenství pro sítovou analýzu vybavení pro vzorkování a reprezentativní dělení vzorků konzistometry laboratorní mlýny
měření povrchového a mezifázového napětí měření statického i dynamického povrchového a mezifázového napětí stolní i přenosné přístroje pro měření kontaktních úhlů analyzátory pěn variabilní uspořádání přístrojů pro měření kontaktních úhlů včetně individuálních řešení podle konkrétních požadavků zákazníka
rychlá identifikace a kontrola kvality termoplastů (modifikovaná DMA) DETA
přenosné i stabilní čítače částic pro vzduch, plyny i kapaliny stabilní i přenosné mikrobiologické vzorkovače analyzátory TOC
stolní NMR analyzátor pro rutinní charakterizaci disperzí
stolní SIMS analyzátor (hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů) přesná chemická analýza tenkých vrstev hloubkové profily v nanometrovém měřítku "Time-of-Flight" hmotový spektrometr (MALDI-ToF, GC-ToF)
Systémy pro dynamickou obrazovou analýzu a třídění částic. Využitím FPGA architektury modul ODIN dosahuje výjimečné rychlosti analýzy částic bez omezení limity standardní počítačové technologie. Při vyhodnocování vlastností částic je možné kombinovat velké množství tvarových parametrů. ODIN je možné kombinovat s různými mikroskopy nebo jinými optickými systémy. Pro analýzu částic je možné používat i fluorescenci.
mikroskopy skenující sondou konfokální mikroskopie konfokální Ramanovská mikroskopie SNOM AFM
